Microscopía electrónica de láminas delgadas

Autores
Ipohorski, Miguel
Año de publicación
1976
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión aceptada
Descripción
Fil: Ipohorski, Miguel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Materia
MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA POR TRANSMISIÓN
DIFRACCIÓN (ELECTRÓN)
DEFECTOS CRISTALINOS
PARTÍCULAS (CINEMÁTICA)
ELECTRON MICROSCOPY
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
DIFFRACTION (ELECTRON)
CRYSTAL DEFECTS
KINEMATICS (PARTICLE)
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
Repositorio
Nuclea (CNEA)
Institución
Comisión Nacional de Energía Atómica
OAI Identificador
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