Cita APA

Villegas Gomez, E. A., Parra, R., & Ramajo, L. A. (2018). Métodos de medición de espesores de películas delgadas basadas en óxidos semiconductores. Web

Citación estilo Chicago

Villegas Gomez, Edgar Arbey, Rodrigo Parra, and Leandro Alfredo Ramajo. Métodos De Medición De Espesores De Películas Delgadas Basadas En óxidos Semiconductores. 2018.

Cita MLA

Villegas Gomez, Edgar Arbey, Rodrigo Parra, and Leandro Alfredo Ramajo. Métodos De Medición De Espesores De Películas Delgadas Basadas En óxidos Semiconductores. 2018.