Frechero, M. A., Rocci, M., Schmidt, R., Diaz Guillen, M., Dura, O., Rivera Calzada, A., . . . Leon,C. (2012). Caracterización eléctrica de fronteras de grano en conductores iónicos mediante medidas de espectroscopia de impedancias en un bicristal. Web
Citación estilo ChicagoFrechero, Marisa Alejandra, M. Rocci, R. Schmidt, M. Diaz Guillen, O. Dura, A. Rivera Calzada, J. Santamaria, and Leon,C. Caracterización Eléctrica De Fronteras De Grano En Conductores Iónicos Mediante Medidas De Espectroscopia De Impedancias En Un Bicristal. 2012.
Cita MLAFrechero, Marisa Alejandra, et al. Caracterización Eléctrica De Fronteras De Grano En Conductores Iónicos Mediante Medidas De Espectroscopia De Impedancias En Un Bicristal. 2012.
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