Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados

Autores
Airabella, Andres Miguel; Oggier, German Gustavo; Piris Botalla, Laureano Enrique; Falco, Cristian Ariel; García, Guillermo Oscar
Año de publicación
2015
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
En este trabajo se analiza la operación de un convertidor CC-CC cuando uno de los semiconductores de potencia presenta una condición de falla de circuito abierto. Se propone una nueva estrategia de diagnóstico de falla, la cual consiste en medir la caída de tensión a bornes de cada uno de los semiconductores de potencia utilizando la información disponible en los circuitos de activación. La tensión medida se compara con un valor de referencia para determinar si un semiconductor presenta una condición de circuito abierto. Esta estrategia tiene la ventaja de que puede llevarse a cabo sin incluir sensores adicionales. Se incluyen resultados experimentales para validar la teoría.
Fil: Airabella, Andres Miguel. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Oggier, German Gustavo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
Fil: Piris Botalla, Laureano Enrique. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
Fil: Falco, Cristian Ariel. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
Fil: García, Guillermo Oscar. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
Materia
Convertidores Cc-Cc
Tolerancia a Fallas
Diagnóstico de Fallas
Electrónica de Potencia
Puentes Duales Activos
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
Repositorio
CONICET Digital (CONICET)
Institución
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
OAI Identificador
oai:ri.conicet.gov.ar:11336/64957
Acceder
id CONICETDig_22ab90a7c01a477830ffc7405d13b114
oai_identifier_str oai:ri.conicet.gov.ar:11336/64957
network_acronym_str CONICETDig
repository_id_str 3498
network_name_str CONICET Digital (CONICET)
spelling Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aisladosAirabella, Andres MiguelOggier, German GustavoPiris Botalla, Laureano EnriqueFalco, Cristian ArielGarcía, Guillermo OscarConvertidores Cc-CcTolerancia a FallasDiagnóstico de FallasElectrónica de PotenciaPuentes Duales Activoshttps://purl.org/becyt/ford/2.2https://purl.org/becyt/ford/2En este trabajo se analiza la operación de un convertidor CC-CC cuando uno de los semiconductores de potencia presenta una condición de falla de circuito abierto. Se propone una nueva estrategia de diagnóstico de falla, la cual consiste en medir la caída de tensión a bornes de cada uno de los semiconductores de potencia utilizando la información disponible en los circuitos de activación. La tensión medida se compara con un valor de referencia para determinar si un semiconductor presenta una condición de circuito abierto. Esta estrategia tiene la ventaja de que puede llevarse a cabo sin incluir sensores adicionales. Se incluyen resultados experimentales para validar la teoría.Fil: Airabella, Andres Miguel. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; ArgentinaFil: Oggier, German Gustavo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; ArgentinaFil: Piris Botalla, Laureano Enrique. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; ArgentinaFil: Falco, Cristian Ariel. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; ArgentinaFil: García, Guillermo Oscar. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; ArgentinaEditores2015-03info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11336/64957Airabella, Andres Miguel; Oggier, German Gustavo; Piris Botalla, Laureano Enrique; Falco, Cristian Ariel; García, Guillermo Oscar; Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados; Editores; Ingeniería Eléctrica; 296; 3-2015; 96-1041667-5169CONICET DigitalCONICETspainfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.editores-srl.com.ar/revistas/ie/296/gea_estrategia_de_deteccion_de_fallas_de_circuito_abiertoinfo:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/reponame:CONICET Digital (CONICET)instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas2025-09-03T09:45:26Zoai:ri.conicet.gov.ar:11336/64957instacron:CONICETInstitucionalhttp://ri.conicet.gov.ar/Organismo científico-tecnológicoNo correspondehttp://ri.conicet.gov.ar/oai/requestdasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:34982025-09-03 09:45:27.127CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicasfalse
dc.title.none.fl_str_mv Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados
title Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados
spellingShingle Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados
Airabella, Andres Miguel
Convertidores Cc-Cc
Tolerancia a Fallas
Diagnóstico de Fallas
Electrónica de Potencia
Puentes Duales Activos
title_short Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados
title_full Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados
title_fullStr Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados
title_full_unstemmed Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados
title_sort Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados
dc.creator.none.fl_str_mv Airabella, Andres Miguel
Oggier, German Gustavo
Piris Botalla, Laureano Enrique
Falco, Cristian Ariel
García, Guillermo Oscar
author Airabella, Andres Miguel
author_facet Airabella, Andres Miguel
Oggier, German Gustavo
Piris Botalla, Laureano Enrique
Falco, Cristian Ariel
García, Guillermo Oscar
author_role author
author2 Oggier, German Gustavo
Piris Botalla, Laureano Enrique
Falco, Cristian Ariel
García, Guillermo Oscar
author2_role author
author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv Convertidores Cc-Cc
Tolerancia a Fallas
Diagnóstico de Fallas
Electrónica de Potencia
Puentes Duales Activos
topic Convertidores Cc-Cc
Tolerancia a Fallas
Diagnóstico de Fallas
Electrónica de Potencia
Puentes Duales Activos
purl_subject.fl_str_mv https://purl.org/becyt/ford/2.2
https://purl.org/becyt/ford/2
dc.description.none.fl_txt_mv En este trabajo se analiza la operación de un convertidor CC-CC cuando uno de los semiconductores de potencia presenta una condición de falla de circuito abierto. Se propone una nueva estrategia de diagnóstico de falla, la cual consiste en medir la caída de tensión a bornes de cada uno de los semiconductores de potencia utilizando la información disponible en los circuitos de activación. La tensión medida se compara con un valor de referencia para determinar si un semiconductor presenta una condición de circuito abierto. Esta estrategia tiene la ventaja de que puede llevarse a cabo sin incluir sensores adicionales. Se incluyen resultados experimentales para validar la teoría.
Fil: Airabella, Andres Miguel. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Oggier, German Gustavo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
Fil: Piris Botalla, Laureano Enrique. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
Fil: Falco, Cristian Ariel. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
Fil: García, Guillermo Oscar. Universidad Nacional de Rio Cuarto. Facultad de Ingeniería. Grupo de Electronica Aplicada; Argentina
description En este trabajo se analiza la operación de un convertidor CC-CC cuando uno de los semiconductores de potencia presenta una condición de falla de circuito abierto. Se propone una nueva estrategia de diagnóstico de falla, la cual consiste en medir la caída de tensión a bornes de cada uno de los semiconductores de potencia utilizando la información disponible en los circuitos de activación. La tensión medida se compara con un valor de referencia para determinar si un semiconductor presenta una condición de circuito abierto. Esta estrategia tiene la ventaja de que puede llevarse a cabo sin incluir sensores adicionales. Se incluyen resultados experimentales para validar la teoría.
publishDate 2015
dc.date.none.fl_str_mv 2015-03
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
info:ar-repo/semantics/articulo
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/11336/64957
Airabella, Andres Miguel; Oggier, German Gustavo; Piris Botalla, Laureano Enrique; Falco, Cristian Ariel; García, Guillermo Oscar; Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados; Editores; Ingeniería Eléctrica; 296; 3-2015; 96-104
1667-5169
CONICET Digital
CONICET
url http://hdl.handle.net/11336/64957
identifier_str_mv Airabella, Andres Miguel; Oggier, German Gustavo; Piris Botalla, Laureano Enrique; Falco, Cristian Ariel; García, Guillermo Oscar; Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semiconductores de convertidores CC-CC aislados; Editores; Ingeniería Eléctrica; 296; 3-2015; 96-104
1667-5169
CONICET Digital
CONICET
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.editores-srl.com.ar/revistas/ie/296/gea_estrategia_de_deteccion_de_fallas_de_circuito_abierto
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
eu_rights_str_mv openAccess
rights_invalid_str_mv https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
application/pdf
application/pdf
application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Editores
publisher.none.fl_str_mv Editores
dc.source.none.fl_str_mv reponame:CONICET Digital (CONICET)
instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
reponame_str CONICET Digital (CONICET)
collection CONICET Digital (CONICET)
instname_str Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
repository.name.fl_str_mv CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
repository.mail.fl_str_mv dasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.ar
_version_ 1842268731776958464
score 13.13397

Publicaciones similares