Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal
- Autores
- Aguilar, Andrés Daniel; Torga, Jorge Román
- Año de publicación
- 2019
- Idioma
- inglés
- Tipo de recurso
- artículo
- Estado
- versión publicada
- Descripción
- Los sistemas de error de foco basados en el principio astigmático que utilizan detectores de cuatro cuadrantes como elemento generador de señal han sido usados ampliamente en una gran variedad de aplicaciones. Sin embargo, su principio de funcionamiento no es particularmente adecuado para medidas que involucran más de un spot. En este trabajo proponemos un nuevo método que usa un CCD como dispositivo de detección y un método de procesar los datos adquiridos. Un efecto secundario de este cambio es la pérdida del parámetro , clave en estas técnicas. Para superar este problema se propone un nuevo parámetro que llamamos señal de foco. El proceso de medición de espesor de una muestra transparente con dos caras reflectoras usando esta técnica también es presentado.
Focus error systems based on the astigmatic principle relying on four quadrant photo detectors as the signal generation element have widely been used in many different applications. Nevertheless, its working principle is not particularly suitable for measurements involving more than one spot. In this work we propose a new method that uses a CCD as the detection device as well as a method of processing acquired data. A side effect of this change is the loss of the parameter key to these techniques. To overcome this issue a new parameter named focus signal is proposed. The thickness measuring process of a transparent sample with two reflective layers using this technique is also presented.
Fil: Aguilar, Andrés Daniel. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Torga, Jorge Román. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina - Materia
-
ASTIGMATIC
BEAM PROFILOMETER
FOCUS-ERROR-SIGNAL
MULTIPLE SPOTS
THICKNESS - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
- Repositorio
- Institución
- Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
- OAI Identificador
- oai:ri.conicet.gov.ar:11336/175185
Ver los metadatos del registro completo
id |
CONICETDig_0bb06f0440fba2e0b10215557130a02e |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:ri.conicet.gov.ar:11336/175185 |
network_acronym_str |
CONICETDig |
repository_id_str |
3498 |
network_name_str |
CONICET Digital (CONICET) |
spelling |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signalMedición de espesor de placas de vidrio por señal de error de foco de spot binarioAguilar, Andrés DanielTorga, Jorge RománASTIGMATICBEAM PROFILOMETERFOCUS-ERROR-SIGNALMULTIPLE SPOTSTHICKNESShttps://purl.org/becyt/ford/2.5https://purl.org/becyt/ford/2Los sistemas de error de foco basados en el principio astigmático que utilizan detectores de cuatro cuadrantes como elemento generador de señal han sido usados ampliamente en una gran variedad de aplicaciones. Sin embargo, su principio de funcionamiento no es particularmente adecuado para medidas que involucran más de un spot. En este trabajo proponemos un nuevo método que usa un CCD como dispositivo de detección y un método de procesar los datos adquiridos. Un efecto secundario de este cambio es la pérdida del parámetro , clave en estas técnicas. Para superar este problema se propone un nuevo parámetro que llamamos señal de foco. El proceso de medición de espesor de una muestra transparente con dos caras reflectoras usando esta técnica también es presentado.Focus error systems based on the astigmatic principle relying on four quadrant photo detectors as the signal generation element have widely been used in many different applications. Nevertheless, its working principle is not particularly suitable for measurements involving more than one spot. In this work we propose a new method that uses a CCD as the detection device as well as a method of processing acquired data. A side effect of this change is the loss of the parameter key to these techniques. To overcome this issue a new parameter named focus signal is proposed. The thickness measuring process of a transparent sample with two reflective layers using this technique is also presented.Fil: Aguilar, Andrés Daniel. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; ArgentinaFil: Torga, Jorge Román. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; ArgentinaSociedad Española de Óptica2019-12info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11336/175185Aguilar, Andrés Daniel; Torga, Jorge Román; Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal; Sociedad Española de Óptica; Optica Pura y Aplicada; 52; 4; 12-2019; 1-92171-8814CONICET DigitalCONICETenginfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.sedoptica.es/Menu_Volumenes/Pdfs/OPA_52_4_51035.pdfinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.7149/OPA.52.4.51035info:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/reponame:CONICET Digital (CONICET)instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas2025-09-10T13:00:51Zoai:ri.conicet.gov.ar:11336/175185instacron:CONICETInstitucionalhttp://ri.conicet.gov.ar/Organismo científico-tecnológicoNo correspondehttp://ri.conicet.gov.ar/oai/requestdasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:34982025-09-10 13:00:51.304CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicasfalse |
dc.title.none.fl_str_mv |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal Medición de espesor de placas de vidrio por señal de error de foco de spot binario |
title |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal |
spellingShingle |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal Aguilar, Andrés Daniel ASTIGMATIC BEAM PROFILOMETER FOCUS-ERROR-SIGNAL MULTIPLE SPOTS THICKNESS |
title_short |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal |
title_full |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal |
title_fullStr |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal |
title_full_unstemmed |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal |
title_sort |
Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal |
dc.creator.none.fl_str_mv |
Aguilar, Andrés Daniel Torga, Jorge Román |
author |
Aguilar, Andrés Daniel |
author_facet |
Aguilar, Andrés Daniel Torga, Jorge Román |
author_role |
author |
author2 |
Torga, Jorge Román |
author2_role |
author |
dc.subject.none.fl_str_mv |
ASTIGMATIC BEAM PROFILOMETER FOCUS-ERROR-SIGNAL MULTIPLE SPOTS THICKNESS |
topic |
ASTIGMATIC BEAM PROFILOMETER FOCUS-ERROR-SIGNAL MULTIPLE SPOTS THICKNESS |
purl_subject.fl_str_mv |
https://purl.org/becyt/ford/2.5 https://purl.org/becyt/ford/2 |
dc.description.none.fl_txt_mv |
Los sistemas de error de foco basados en el principio astigmático que utilizan detectores de cuatro cuadrantes como elemento generador de señal han sido usados ampliamente en una gran variedad de aplicaciones. Sin embargo, su principio de funcionamiento no es particularmente adecuado para medidas que involucran más de un spot. En este trabajo proponemos un nuevo método que usa un CCD como dispositivo de detección y un método de procesar los datos adquiridos. Un efecto secundario de este cambio es la pérdida del parámetro , clave en estas técnicas. Para superar este problema se propone un nuevo parámetro que llamamos señal de foco. El proceso de medición de espesor de una muestra transparente con dos caras reflectoras usando esta técnica también es presentado. Focus error systems based on the astigmatic principle relying on four quadrant photo detectors as the signal generation element have widely been used in many different applications. Nevertheless, its working principle is not particularly suitable for measurements involving more than one spot. In this work we propose a new method that uses a CCD as the detection device as well as a method of processing acquired data. A side effect of this change is the loss of the parameter key to these techniques. To overcome this issue a new parameter named focus signal is proposed. The thickness measuring process of a transparent sample with two reflective layers using this technique is also presented. Fil: Aguilar, Andrés Daniel. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina Fil: Torga, Jorge Román. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina |
description |
Los sistemas de error de foco basados en el principio astigmático que utilizan detectores de cuatro cuadrantes como elemento generador de señal han sido usados ampliamente en una gran variedad de aplicaciones. Sin embargo, su principio de funcionamiento no es particularmente adecuado para medidas que involucran más de un spot. En este trabajo proponemos un nuevo método que usa un CCD como dispositivo de detección y un método de procesar los datos adquiridos. Un efecto secundario de este cambio es la pérdida del parámetro , clave en estas técnicas. Para superar este problema se propone un nuevo parámetro que llamamos señal de foco. El proceso de medición de espesor de una muestra transparente con dos caras reflectoras usando esta técnica también es presentado. |
publishDate |
2019 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2019-12 |
dc.type.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 info:ar-repo/semantics/articulo |
format |
article |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.none.fl_str_mv |
http://hdl.handle.net/11336/175185 Aguilar, Andrés Daniel; Torga, Jorge Román; Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal; Sociedad Española de Óptica; Optica Pura y Aplicada; 52; 4; 12-2019; 1-9 2171-8814 CONICET Digital CONICET |
url |
http://hdl.handle.net/11336/175185 |
identifier_str_mv |
Aguilar, Andrés Daniel; Torga, Jorge Román; Transparent glass slab thickness measurement by binary-spot focus signal; Sociedad Española de Óptica; Optica Pura y Aplicada; 52; 4; 12-2019; 1-9 2171-8814 CONICET Digital CONICET |
dc.language.none.fl_str_mv |
eng |
language |
eng |
dc.relation.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.sedoptica.es/Menu_Volumenes/Pdfs/OPA_52_4_51035.pdf info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.7149/OPA.52.4.51035 |
dc.rights.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
rights_invalid_str_mv |
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf application/pdf |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Sociedad Española de Óptica |
publisher.none.fl_str_mv |
Sociedad Española de Óptica |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:CONICET Digital (CONICET) instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
reponame_str |
CONICET Digital (CONICET) |
collection |
CONICET Digital (CONICET) |
instname_str |
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
repository.name.fl_str_mv |
CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
repository.mail.fl_str_mv |
dasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.ar |
_version_ |
1842979909394235392 |
score |
12.48226 |