Gulisano, A. M., & Fuentes, N. O. (1998). Caracterización fractal de películas delgadas de CdTe y CdS por el método de variogramas múltiples. Web
Citación estilo ChicagoGulisano, Adriana María, and Néstor Osvaldo Fuentes. Caracterización Fractal De Películas Delgadas De CdTe Y CdS Por El Método De Variogramas Múltiples. 1998.
Cita MLAGulisano, Adriana María, and Néstor Osvaldo Fuentes. Caracterización Fractal De Películas Delgadas De CdTe Y CdS Por El Método De Variogramas Múltiples. 1998.
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