Medidas de resistividad, rayos-X, transmisión y reflectancia de Bi₂Sr₂Ca₁Cu₂O₈˖ᴅ dopado con Se - Etchegoin, Pablo Gabriel (1989)
En el presente trabajo presentamos medidas preliminares de transmisión y reflexión para estudiar el efecto de introducir impurezas de Se en Bi₂Ca₁Cu₂O₈˖ᴅ. La caracterización de los materiales se realizó con medidas de resistividad eléctrica y rayos-X. Las curvas de reflectividad y transmitancia a temperatura ambiente y a 30 K muestran el comportamiento típico observado ya en otros superconductores de alta Tc. A diferencia del compuesto puro que no da estructura en los espectros de reflectividad y transmitancia por encima de 800 cm-₁, el compuesto dopado en Se presenta estructura alrededor de 3200 cm-₁. Esto también se observa con otro tipo de impurezas aunque ligeramente corrido en frecuencias