Interferometría de banda ancha para la medición de espesores - Costantino, Santiago (2003)
En esta tesis se presenta el desarrollo de la técnica interferometría de banda ancha en oposición a la interferometría de luz blanca como un método para medir espesores de líquidos y láminas delgadas. Es posible ganar precisión en la medición reduciendo el ancho de banda de la fuente para evitar las distorsiones causadas por la dispersión del material. A partir del análisis de este efecto se refiita el dogma establecido de que el mayor ancho de banda posible es el óptimo. Se demuestra que el conocimiento preciso de la dependencia del índice de refracción con la longitud de onda es imprescindible para una medición adecuada del espesor de un medio dispersivo. El dispositivo experimental presentado es, además, adecuado para obtener esta dependencia con suficiente resolución. En el marco del desarrollo de una técnica capaz de medir con eficiencia espesores de lubricantes, pinturas y barnices, se ilustran los alcances del sistema con la medición del espesor de aceite de siliconas sobre una superficie plana en tiempo real. Finalmente se propone una modificación al esquema experimental con el objetivo de reducir el espesor mínimo mensurable. Se presenta el desarrollo de la Interferometría de tres ondas como la solución para ampliar el rango dinámico de la interferometría de banda ancha.